日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀：精準(zhǔn)分析的

日本理學(xué)（Rigaku）是的分析儀器制造商，其 X 射線熒光光譜儀（XRF）以高靈敏度、多功能性性能在全球科學(xué)界和工業(yè)領(lǐng)域享有盛譽。這些儀器被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金、環(huán)境監(jiān)測、地質(zhì)勘探等多個領(lǐng)域，為用戶提供快速、非破壞性、多元素同步檢測的高效解決方案。

產(chǎn)品亮點

1. 高靈敏度與寬廣的檢測范圍

• 檢測元素范圍覆蓋從氧（O）到鈾（U），無論是輕元素還是重元素都能實現(xiàn)精準(zhǔn)分析。

• 采用薄窗光管技術(shù)，顯著提升輕元素檢測靈敏度，滿足復(fù)雜樣品的多樣化需求。

2. 非破壞性檢測

• 無需復(fù)雜的樣品前處理，不會損壞樣品的物理或化學(xué)結(jié)構(gòu)。

• 適用于高價值或稀有樣品的重復(fù)檢測。

3. 多元素同步分析

• 一次掃描即可完成多種元素的定性和定量分析，顯著提升工作效率。

• 優(yōu)化的軟件和自動化功能，讓用戶能夠輕松完成批量樣品檢測。

4. 廣泛的樣品適配性

• 支持固體、液體、粉末、薄膜等多種樣品形式，且樣品處理過程簡單。

• 專為大尺寸或重型樣品設(shè)計的型號可接受最大直徑達 400 毫米、重量達 30 千克的樣品。

5. 高可靠性與低維護成本

• 上照射式光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，減少樣品室污染，提升設(shè)備的使用壽命。

• 采用高強度材料與自動化維護設(shè)計，減少維護時間和成本。

主要產(chǎn)品及功能

1. ZSX Primus 波長色散 X 射線熒光光譜儀

• 結(jié)合高精度薄窗光管和高分辨率分光晶體，提供輕元素分析性能。

• 映射功能支持樣品均勻性和夾雜物的檢測，特別適合復(fù)雜材料分析。

2. ZSX Primus IV 波長色散 XRF

• 上照射式設(shè)計，減少污染并提升分析穩(wěn)定性。

• 高精度樣品定位功能，適用于高要求的元素分析，如合金成分檢測。

3. ZSX Primus 400 波長色散 XRF

• 專為大尺寸樣品而設(shè)計，可處理濺射靶材、磁盤等大型或重型樣品。

• 靈活適配工業(yè)中多樣化的檢測需求。

4. Supermini 200 臺式波長色散 XRF

• 世界大功率臺式波長色散 XRF 光譜儀。

• 小型化設(shè)計適用于實驗室或狹小空間，同時保持高分辨率和低檢測限。

適用領(lǐng)域

1. 工業(yè)質(zhì)量控制

• 精準(zhǔn)分析礦物、合金、水泥等材料中的主要成分與微量元素。

• 支持生產(chǎn)線實時監(jiān)控，優(yōu)化工業(yè)流程。

2. 材料科學(xué)研究

• 高靈敏度檢測材料中的雜質(zhì)和添加劑。

• 微區(qū)分析功能助力新材料研發(fā)和故障檢測。

3. 環(huán)境監(jiān)測

• 檢測土壤、水樣中的重金屬和污染物，為環(huán)境保護提供技術(shù)支持。

4. 地質(zhì)與礦物

• 對礦石和巖石樣品進行元素分析，支持礦產(chǎn)勘探和資源開發(fā)。

儀器優(yōu)勢

1. 高性能

• 先進的光路和探測技術(shù)結(jié)合優(yōu)化的軟件算法，確保高效精準(zhǔn)的檢測結(jié)果。

2. 智能化操作

• 用戶友好的操作界面和自動化樣品處理系統(tǒng)，顯著降低操作復(fù)雜性。

3. 耐用性

• 創(chuàng)新的防污染設(shè)計和耐用材料，使設(shè)備在高頻使用下依然保持穩(wěn)定性能。

總結(jié)

日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀以性能、強大的功能和靈活的樣品適配性，滿足了從科研到工業(yè)生產(chǎn)的多樣化需求。無論是精準(zhǔn)檢測輕元素、批量處理樣品，還是分析復(fù)雜材料，這些儀器都能提供可靠的解決方案，是現(xiàn)代實驗室和工業(yè)應(yīng)用的重要工具。